揮發性記憶體SRAM與DRAM的蛻變
  • 45
  • 出版日期
    01月30日, 2026
  • 作者
    NIKKEI ELECTRONICS
前言

揮發性(Volatile)記憶體—SRAM、DRAM為半導體主要記憶體,但目前面臨蛻變時期。SRAM的課題在於晶片中面積占比偏高,透過運用CFET雙層化,可望提升儲存密度。DRAM則面臨微縮極限,透過改用氧化銦鎵鋅(Indium Gallium Zinc Oxide, IGZO)材料為基底製作電晶體,同樣可望脫胎換骨。

目錄
    SRAM在CFET世代邁向雙層化
    DRAM進化為無電容器,IGZO大為活躍
    附錄
圖目錄
    圖一、CFET實用化時期可能落在2028~2031年間
    圖二、CFET將使SRAM形狀產生巨變
    圖三、電源線、訊號線配置成為焦點
    圖四、相較於A14製程,A7製程CFET版SRAM面積縮減40%
    圖五、A5製程起,CFET的優勢才會較為明顯?
    圖六、以2011年為分水嶺,DRAM微縮步調大幅趨緩
    圖七、由於電容器容量減少,電晶體漏電,導致DRAM面臨極限
    圖八、Kioxia與南亞科技運用IGZO大幅降低DRAM刷新頻率
    圖九、電容器從DRAM中消失
    圖十、也出現2T0C型DRAM多值化單元及高密度實際製作案例
表目錄
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